GB 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布)
作者:标准资料网
时间:2024-05-29 05:57:54
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基本信息
| 标准名称： | 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) |
| 英文名称： | Life test and acceleration life test;Optimal linear deflection-free evaluation of Weibull distributions |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 电子元器件与信息技术综合 >> 可靠性和可维护性 |
| ICS分类： | 电子学 >> 电子元件综合 |
| 替代情况： | 替代SJ 1435-1978 |
| 发布部门： | 国家标准总局 |
| 发布日期： | 1981-06-22 |
| 实施日期： | 1981-10-01 |
| 首发日期： | 1981-06-22 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 提出单位： | 中华人民共和国第四机械工业部 |
| 归口单位： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 四机部标准化研究所 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1981-10-01 |
| 页数： | 7页 |
适用范围
本标准规定了用于恒定应力寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法的程序和方法。
前言
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 电子元器件与信息技术综合 可靠性和可维护性 电子学 电子元件综合
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