ANSI/IEEE 759-1984 半导体X射线能量频谱仪的试验程序

作者:标准资料网时间:2024-05-10 16:33:28 浏览:8791 来源:标准资料网

【英文标准名称】:SemiconductorX-RayEnergySpectrometers,TestProceduresfor
【原文标准名称】:半导体X射线能量频谱仪的试验程序
【标准号】:ANSI/IEEE759-1984
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1984
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分光计;半导体;辐射测量;测量技术
【英文主题词】:Measuringtechniques;Radiationmeasurement;Radiationmeters;Semiconductors;Spectrometers;X-rayspectrometer
【摘要】:Presentsstandardtestproceduresforsemiconductorx-rayenergyspectrometers.Suchsystemsconsistofasemiconductorradiationdetectorassemblyandsignalprocessingelectronicsinterfacedtoapulseheightanalyzer/computer.
【中国标准分类号】:N33
【国际标准分类号】:17_240
【页数】:
【正文语种】:英语

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基本信息

标准名称：	识别卡记录技术第5部分:读写磁道的第3磁道的位置
英文名称：	Identification cards-Recording technique-Part 5: Location of read-write magnetic track-Track 3
中标分类：	电子元器件与信息技术 >> 计算机 >> 数据媒体
ICS分类：	信息技术、办公机械设备 >> 数据存储设备 >> 纸卡和纸带
替代情况：	SJ/Z 9026.5-1987;被GB/T 15120.2-2012代替
发布部门：	国家标准化管理委员会
发布日期：	1994-07-01
实施日期：	1995-03-01
首发日期：	1994-07-16
作废日期：	2013-06-01
主管部门：	国家标准化管理委员会
提出单位：	中华人民共和国机械电子工业部
归口单位：	全国信息技术标准化技术委员会
起草单位：	电子部电子标准化所
起草人：	邵坚、黄家英、王云生、刘钟、聂舒
出版社：	中国标准出版社
出版日期：	1995-03-01
页数：	3页

适用范围

本标准规定了识别卡上用于自动数据交换的读写磁记录（第3磁道）的磁道位置。

前言

没有内容

引用标准

没有内容

所属分类：电子元器件与信息技术计算机数据媒体信息技术办公机械设备数据存储设备纸卡和纸带

基本信息

标准名称：	人类工效学照明术语
英文名称：	Terms of lighting for ergonomics
中标分类：	综合 >> 基础标准 >> 人类工效学
ICS分类：	环保、保健与安全 >> 人类工效学
发布部门：	国家标准局
发布日期：	1985-12-05
实施日期：	1986-09-01
首发日期：	1985-12-05
作废日期：	1900-01-01
主管部门：	国家标准化管理委员会
归口单位：	全国人类工效学标准化技术委员会
起草单位：	同济大学建筑系、清华大学建筑系、中国建筑科学研究院建筑物理研究所
起草人：	杨公侠
出版社：	中国标准出版社
出版日期：	1986-09-01
页数：	12页

适用范围

本标准有关照明术语，适用于采光和照明技术。

前言

没有内容

引用标准

没有内容

所属分类：综合基础标准人类工效学环保保健与安全人类工效学

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